Mọi người ơi,
Trong bài đăng gần đây nhất , chúng tôi đã thảo luận về các kỹ thuật để giảm thiểu râu thiếc (TW). Để giúp xác định chiến lược giảm thiểu râu thiếc của bạn nên là gì, hãy cân nhắc sử dụng phân tích chế độ và tác động lỗi (FMEA) . Chỉ số trung tâm của FMEA là số ưu tiên rủi ro (RPN). Đối với râu thiếc, RPN bằng tích của: (1) xác suất xuất hiện râu thiếc (P); (2) mức độ nghiêm trọng, nếu có râu thiếc (S); và (3) mức độ khó phát hiện râu thiếc (D). Ở dạng phương trình:
RPN = P*S*D
Ví dụ đầu tiên, hãy xem xét một sản phẩm tiêu dùng, như điện thoại di động có tuổi thọ 5 năm. Với biện pháp giảm thiểu, trên thang điểm từ 1 đến 10, P có thể là 2. Đối với S, chúng ta có thể đánh giá ở mức 3, vì lỗi trong thiết bị không có khả năng gây hại nghiêm trọng cho bất kỳ ai. Phát hiện (D) là một vấn đề vì râu thiếc hình thành sau đó không thể phát hiện được trong quá trình sản xuất; do đó, chúng ta sẽ phải đánh giá D là 10. Vì vậy, RPN là: 2 * 3 * 10 = 60, không quá cao. Do đó, với P và S ở các giá trị tương đối thấp, chiến lược giảm thiểu râu thiếc có khả năng sẽ thành công đối với bất kỳ sản phẩm tiêu dùng nào. Cần lưu ý rằng việc xác định số RPN gần như chắc chắn sẽ yêu cầu dữ liệu hỗ trợ, các buổi động não và sự đồng thuận từ toàn bộ nhóm sản phẩm. Nhóm cũng sẽ phải xác định bất kỳ chiến lược giảm thiểu phù hợp nào như tránh lớp phủ thiếc sáng trên các dây dẫn linh kiện và có thể sử dụng một tia niken giữa đồng và thiếc (Hình 1).
Hình 1. Trong các sản phẩm quan trọng, có thể cần lớp phủ. Gần như không thể có TW xuyên qua cả hai lớp phủ như minh họa ở trên.
Bây giờ hãy xem xét một sản phẩm quan trọng đối với nhiệm vụ, chẳng hạn như một số loại thiết bị quân sự. Nếu chúng ta giả định rằng các thiết bị điện tử có tuổi thọ là 40 năm và một lỗi có thể gây ra thương tích hoặc tử vong, thì chúng ta có thể đi đến thống nhất rằng RPN = 10*10*10 =1000, là RPN cao nhất có thể. Tình huống này sẽ đòi hỏi phải sử dụng các chiến thuật đặc biệt để giải quyết rủi ro tin ria mép. Các chiến thuật này đã được thảo luận trong bài báo và bài thuyết trình của tôi tại SMTA Pan Pacific 2019 .
Chúc mừng,
Tiến sĩ Ron
