Kiểm tra SIR—Kiểm tra độ bền bề mặt và cách điện—đã có từ lâu. Tại sao? ( hãy xem blog này! ) Và tại sao chúng ta lại muốn sử dụng các bài kiểm tra thậm chí còn khó hơn cả tiêu chuẩn hiện tại J-STD-004B ?
Vâng, trên PCBA, bất kể hiệu suất của hợp kim hàn được lựa chọn cẩn thận và có độ tin cậy cao, thì nó cũng không có ý nghĩa gì nhiều nếu dòng điện chạy đến những nơi không nên đến. Điều này có thể xảy ra theo cách lớn trong một "mạch ngắn" khi kim loại kết thúc ở nơi không nên đến (do dendrite , râu thiếc hoặc hạt hàn gây ra), nhưng nó có thể tinh vi hơn thế. Một mạch ngắn kim loại có thể có điện trở RẤT thấp, nhưng chỉ riêng chất dư từ thông có thể dẫn điện —ngay cả khi chỉ một chút — làm giảm điện trở và làm giảm hiệu suất.
Được rồi, vì vậy chúng ta có các thông lượng không sạch được thiết kế để không dẫn điện. Chúng tôi có các khuyến nghị về quy trình cho các thông lượng đó để giúp các nhà sản xuất sử dụng các thông lượng đó. Và chúng tôi có thử nghiệm SIR J-STD-004B để chứng minh rằng sau khi sử dụng các quy trình được khuyến nghị, điện trở của các thông lượng vẫn rất cao (trên 100 megaOhm). Vậy, phiên bản "nâng cao" này của SIR là gì?
Tại sao chúng ta lại thử nghiệm trong những điều kiện khó khăn hơn nữa?
- Chúng tôi thử nghiệm các vật liệu có độ tin cậy cao như Indium8.9HF trong hai điều kiện môi trường khác nhau vì chúng tôi cần đảm bảo hiệu suất tốt trong nhiều điều kiện nhiệt độ và độ ẩm. Trong khi 40°C là nhiệt độ "thực tế" hơn đối với hầu hết các ứng dụng điện tử, thì các thiết bị điện tử có độ tin cậy cao có thể cần phải chịu được nhiệt độ cao hơn nhiều. Điều kiện môi trường 85°C/85% RH được rút ra từ thiết kế thử nghiệm J-STD-004A trước đó.
- Việc kéo dài thời gian thử nghiệm SIR lên 1000 giờ là rất quan trọng đối với các thiết bị điện tử có tuổi thọ dự kiến dài, đặc biệt là thiết bị điện tử ô tô . Bằng cách kéo dài thời gian thử nghiệm lên 1000 giờ (6 tuần!), chúng ta có thể tự tin rằng không có thay đổi nào về hiệu suất theo thời gian. Thêm vào đó, thời gian bổ sung giúp chúng ta xác nhận không có phản ứng chậm trễ nào.
- Khoảng cách nhỏ hơn giữa các đường dẫn điện có nghĩa là dòng điện dễ rò rỉ giữa các dấu vết hơn. Vì các thành phần ngày càng nhỏ hơn theo thời gian, chúng ta cần đảm bảo rằng các xe thông lượng của chúng ta có thể xử lý được thách thức đó.
- Việc thử nghiệm ở điện áp cao hơn rất quan trọng khi có các cụm lắp ráp mới như cụm lắp ráp cho xe điện tử sử dụng điện áp cao hơn cho các thiết bị điện tử quan trọng.
- Và cuối cùng, chỉ cần đạt tiêu chuẩn cao hơn cũng có thể mang lại sự an tâm và mở rộng quy trình khi thiết kế để có độ tin cậy cao.
Nếu bạn có bất kỳ câu hỏi nào về hiệu suất và thử nghiệm SIR, vui lòng liên hệ với tôi hoặc bất kỳ thành viên nào trong nhóm Indium Corporation.
