If you end up at the 2008 International Wafer-Level Packaging Conference, make sure you check out the presentation for “Metrology in Wafer-Level Microsphere Processes”. You’ll learn how you can actually ‘see’ flux with inspection equipment – a big challenge in our industry.
IWLPC 2008 – WLP Metrology
Equipa de blogues da Indium Corporation
A nossa equipa de bloggers inclui engenheiros, investigadores, especialistas em produtos e líderes da indústria. Partilhamos conhecimentos especializados em materiais de soldadura, montagem de eletrónica, gestão térmica e fabrico avançado. O nosso blogue oferece informações, conhecimentos técnicos e soluções para inspirar os profissionais, apresentando inovações de produtos, tendências e melhores práticas para ajudar os leitores a destacarem-se numa indústria competitiva.
