Video này dành cho các kỹ thuật viên lắp ráp thiết bị điện tử có nhiệm vụ đánh giá độ tin cậy trong điều kiện thực tế. Nội dung video bao gồm việc xác định liệu việc lấy mẫu có thể chứng minh rằng không có bất kỳ lỗi nào hay không.
Phil Zarrow: Tiến sĩ Lasky, các kỹ sư và nhà quản lý quan tâm đến việc xác định tỷ lệ lỗi chắc chắn sẽ thấy một trong những câu chuyện mới nhất của ông trong bộ truyện *The Adventures of Patty and the Professor* rất hữu ích. Trong câu chuyện đó, điều gì xảy ra khi Patty được yêu cầu xây dựng một kế hoạch lấy mẫu?
Tiến sĩ Ronald C. Lasky: Cô ấy được sếp cũ yêu cầu xây dựng một kế hoạch lấy mẫu không có lỗi. Ông ấy muốn một kế hoạch mà người ta có thể thực hiện và đạt được mục tiêu, cụ thể là yêu cầu một số lượng mẫu nhỏ, đồng thời đảm bảo tỷ lệ lỗi bằng không với độ tin cậy 95%. Đây là một trong những điều mà nhiều người chưa thực sự hiểu rõ. Thực tế, bạn không thể làm được điều đó với cỡ mẫu nhỏ.
Patty rất lịch sự; cô ấy bắt tay vào việc và thực hiện một số phép tính toán học. Cô ấy đã đưa ra một giải pháp giúp anh ấy xác định được tỷ lệ lỗi mà anh ấy có thể đảm bảo với bất kỳ cỡ mẫu nào.
Phil Zarrow: Kết quả phân tích của cô ấy là gì?
Tiến sĩ Ronald C. Lasky: Phân tích của bà cho thấy rằng nếu muốn đảm bảo một tỷ lệ lỗi nhất định với độ tin cậy 95% — giả sử tỷ lệ đó là 1 trên 100, tức 1% — thì để đảm bảo tỷ lệ lỗi là 1 trên 100, bạn cần 300 mẫu thu thập từ thực địa và không có mẫu nào bị lỗi, nhằm chứng minh rằng tỷ lệ lỗi của bạn là 1 trên 100 hoặc tốt hơn.
Đó là một nguyên tắc thực tiễn rất hữu ích: nếu bạn muốn đảm bảo tỷ lệ lỗi là 1 trên 1.000, hoặc thấp hơn, bạn cần 3.000 mẫu. Nếu tỷ lệ lỗi là 1 trên 1 triệu, hoặc thấp hơn, bạn cần 3 triệu mẫu, và tất cả đều phải hoàn hảo. Tin buồn là, nếu bạn muốn chứng minh không có lỗi nào, con số đó sẽ là 3 lần vô cực. Điều đó đơn giản là không thể.
Phil Zarrow: Chúc may mắn nhé. Chúng ta có thể tìm bài báo này ở đâu vậy?
Tiến sĩ Ronald C. Lasky: Đây là một trong những bài viết mới nhất trên blog của tôi, và bạn có thể truy cập tại địa chỉ indiumstg.wpenginepowered.com/blog. Đối với những ai có chút khiếu về toán học, quá trình suy luận mà Patty đã sử dụng để tìm ra đáp án cũng được trình bày trong bài viết đó.
Phil Zarrow: Cảm ơn Tiến sĩ Lasky.
Tiến sĩ Ronald C. Lasky: Cảm ơn.
Từ khóa: indi, Indium Corporation, Tiến sĩ Ron Lasky, [email protected], Phil Zarrow, [email protected], tỷ lệ khuyết tật, độ tin cậy, kế hoạch lấy mẫu
