この動画は、現場での信頼性を評価することが求められる電子機器組立担当者向けです。ここでは、サンプリングによって欠陥がゼロであることを証明できるかどうかを判断する方法についても解説しています。
フィル・ザロー：ラスキー博士、欠陥率の算出に関心のあるエンジニアやマネージャーの方々にとって、『パティと教授の冒険』に収録された博士の最新のエピソードの一つは、間違いなく大いに参考になるでしょう。そのエピソードでは、パティがサンプリング計画の策定を依頼された際、どのような展開になるのでしょうか？
ロナルド・C・ラスキー博士：彼女は 元上司から、欠陥ゼロのサンプリング計画の策定を依頼されました。上司が求めていたのは、実行可能で、具体的には少数のサンプルで、95％の信頼度で欠陥率がゼロであることを保証できる計画でした。これは、多くの人が理解していない点の一つです。実際、サンプル数が少ない状態では、そのようなことは不可能です。
パティはとても礼儀正しく、仕事に取り掛かっていくつかの計算を行いました。そして、任意の標本サイズでどの程度の欠陥率を保証できるかを彼に示す解決策を考案しました。
フィル・ザロー：彼女の分析の結果はどうだったのですか？
ロナルド・C・ラスキー博士：彼女の分析によると、95％の信頼度で特定の不良率を保証したい場合――例えば100個に1個、つまり1％といった場合――100個に1個という不良率を保証するためには、現場から300個のサンプルを採取し、そのすべてが不良であってはならず、不良率が100個に1個以下であることを示す必要があることが明らかになりました。
これは非常に有用な経験則ですが、不良率を1000分の1以下に抑えたい場合は、3,000個のサンプルが必要です。100万分の1以下に抑えたい場合は、300万個のサンプルが必要で、そのすべてに不良があってはなりません。残念なことに、不良ゼロを証明しようとするなら、必要なサンプル数は「無限大の3倍」になります。それは単に不可能なのです。
フィル・ザロー：頑張ってね。その記事はどこで読めるの？
ロナルド・C・ラスキー博士：これは私の最新のブログ記事の一つで、indiumstg.wpenginepowered.com/blog に掲載されています。数学に興味のある方のために、パティが解答を導き出すために用いた導出過程も、実はそこに掲載されています。
フィル・ザロー：ラスキー博士、ありがとうございました。
ロナルド・C・ラスキー博士：ありがとうございます。
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