Applications Thermal Management Semiconductor Test

半導体テスト

The most stringent application requirements for thermal interface materials (TIMs) are found in semiconductor testing. This environment presents challenges such as increased power, elevated heat flux, larger die sizes, and greater warpage that must be effectively managed. For semiconductor testing, compressible soft metal alloys like indium have become the industry standard. Specifically engineered for system-level test, functional test, and burn-in and testing processes, these recyclable materials support multiple insertions, improve process yields, and offer ease of use.

電子回路基板の熱画像。明るいオレンジと黄色がホットスポットを、紫と青が低温エリアを示す。
効率的なバーンイン試験用に設計された、蓋の開いた黒とシルバーの集積回路ソケット。

ヒートスプリング® HSKでプロセス歩留まりを改善

ヒートスプリング®HSKは、片面にテクスチャーパターン、もう片面にアルミニウム被覆バリア層が施され、数多くの挿入による耐久性を保証します。被試験デバイス(DUT)に面する薄いアルミニウム層は、柔らかい金属が表面に付着するのを防ぎ、汚れや亀裂のリスクを効果的に低減します。

凹凸面への隙間充填と熱性能の向上

サステイナブルTIM

メタルTIMは取り扱いが簡単で、100%リサイクル可能で、返却時にクレジット対象となります。動作温度要件に応じて複数の合金をご用意しています。

フレキシブル

適応可能なフォーマットは90°まで曲げることができ、ジンバル式テストヘッドを含む様々なテストヘッド/ソケットリッド構成に巻き付けることができます。

パフォーマンス

表面パターン設計により接触抵抗を低減し、50 psiではんだに匹敵する熱性能を発揮します。さらに低圧用の新しいオプションもあります。

多重挿入

DUT上のアルミニウム被覆層は汚れや固着を防ぎ、何百サイクルも使用できる。

関連アプリケーション

電子部品とパターンが見える緑色の回路基板上のコンピュータ・マイクロチップのクローズアップ。

熱管理

Thermal solutions for HPC ensuring reliability and…

透明なオーバーレイで内部部品と電子接続が見えるマイクロチップのイラスト。

TIM1, TIM1.5, TIM2

Metal-based TIMs deliver high thermal performance and…

緑色の背景に回路基板、銅製コネクター、中央のロゴを示す電子部品の分解図。

パッケージ・アタッチ

Wide selections to address the challenges in…

関連市場