Applications Thermal Management Semiconductor Test

半導體測試

The most stringent application requirements for thermal interface materials (TIMs) are found in semiconductor testing. This environment presents challenges such as increased power, elevated heat flux, larger die sizes, and greater warpage that must be effectively managed. For semiconductor testing, compressible soft metal alloys like indium have become the industry standard. Specifically engineered for system-level test, functional test, and burn-in and testing processes, these recyclable materials support multiple insertions, improve process yields, and offer ease of use.

電子電路板的熱圖,顯示不同的熱區,鮮豔的橙色和黃色表示熱點,紫色和藍色表示較冷的區域。
黑色和銀色的集成電路插座,具有開放式蓋子,專為高效率的燒機測試而設計。

使用 Heat-Spring® HSK 提高製程良率

Heat-Spring® HSK 一側為紋理圖案,另一側為覆鋁阻隔層,可確保經過多次插入後仍然耐用。面對被測元件 (DUT) 的薄鋁層可防止軟金屬附著在表面,有效降低污漬和裂痕的風險。

增強不平整表面的間隙填充和熱能性能

永續 TIM

金屬 TIM 易於處理,100% 可回收,退貨時可抵用。可根據工作溫度要求提供多種合金。

靈活

適應性格式可彎曲達 90°,並可包覆各種測試頭/插座蓋配置,包括萬向測試頭。

效能

表面圖案設計可降低接觸電阻,在 50 psi 的壓力下提供媲美焊錫的熱績效。此外,還提供壓力更低的新選項。

多重插入

DUT 上的覆鋁層可防止沾污和黏著,使其可使用數百個週期。

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