本视频面向需要评估现场可靠性 的电子产品装配人员。内容包括确定抽样是否能够证明缺陷 为零。
菲尔·扎罗：拉斯基博士，工程师 网站以及那些希望确定缺陷 费率的管理人员，一定会发现您在《帕蒂与教授的冒险》中最近发表的一篇故事非常有帮助。故事中，当帕蒂被要求制定一个抽样计划时，发生了什么？
罗纳德·C·拉斯基博士： 她的前任上司要求她 制定一个“零缺陷 ”抽样方案。他希望制定一个既能切实可行、又能满足具体要求的方案——即仅需少量样本，同时能以95%的置信度保证缺陷 率为零。这是许多人未能充分理解的一点：实际上，仅凭较小的样本量是无法做到这一点的。
帕蒂非常有礼貌，她随即着手进行了一些数学计算。她提出了一个解决方案，可以告诉他，在给定的样本量下，他能保证达到什么样的缺陷 率。
菲尔·扎罗：她的分析结果如何？
罗纳德·C·拉斯基博士：她的分析表明，如果想要以95%的置信度保证一定的缺陷 率——假设为1/100，即1%——也就是说，如果想要保证1/100的概率，就需要在实地采集300个样本，且所有样本均不得出现故障，才能证明你的缺陷 率为1/100或更高。
这是一个非常实用的经验法则：如果你想保证缺陷 的概率达到千分之一或更高，就需要3,000个样本；如果想达到百万分之一或更高，就需要300万个样本，且所有样本均无故障。遗憾的是，如果你想证明缺陷 为0，那需要的样本量将是无穷大的3倍。这根本是不可能的。
菲尔·扎罗：祝你好运。我们去哪儿能找到这篇报道呢？
罗纳德·C·拉斯基博士：这是我最近发表的一篇博客，网址是indiumstg.wpenginepowered.com/blog。对于那些对数学稍有兴趣的读者来说，帕蒂用来推导出该解法的推导过程其实也在那里。
菲尔·扎罗：拉斯基博士，谢谢您。
罗纳德·C·拉斯基博士：谢谢。
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