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Evaluación de la fiabilidad en condiciones reales y de las tasas de defectos en el montaje de componentes electrónicos

Este vídeo está dirigido a los montadores de componentes electrónicos que deben evaluar la fiabilidad en condiciones reales de uso. En él se explica cómo determinar si el muestreo puede demostrar que no hay ningún defecto.
Phil Zarrow: Dr. Lasky, a los ingenieros y directivos interesados en determinar las tasas de defectos les resultará sin duda muy útil uno de sus relatos más recientes de «Las aventuras de Patty y el profesor». ¿Qué ocurre en la historia cuando le piden a Patty que elabore un plan de muestreo?
Dr. Ronald C. Lasky: Su antiguo jefe le pidió que elaborara un plan de muestreo de cero defectos. Quería un plan que se pudiera poner en práctica y dar resultados; concretamente, solicitó un número reducido de muestras y que se garantizara una tasa de defectos igual a cero, con un nivel de confianza del 95 %. Esta es una de las cosas que mucha gente no tiene en cuenta. En realidad, eso no se puede hacer con un tamaño de muestra tan pequeño.
Patty fue muy educada, se puso manos a la obra y realizó algunos cálculos matemáticos. Elaboró una solución que le permitiría saber qué tasa de defectos podría garantizar con cualquier tamaño de muestra.
Phil Zarrow: ¿Cuál fue el resultado de su análisis?
Dr. Ronald C. Lasky: Su análisis demostró que, si se quería garantizar una determinada tasa de defectos con un nivel de confianza del 95 % —digamos que fuera de 1 de cada 100, es decir, el 1 %—, para garantizar esa proporción de 1 de cada 100 se necesitaban 300 muestras sobre el terreno, y ninguna de ellas debía presentar defectos, a fin de demostrar que la tasa de defectos era de 1 de cada 100, o mejor.
Es una regla general muy útil: si quieres garantizar una tasa de defectos de 1 entre 1.000, o mejor, necesitas 3.000 muestras. Si quieres una tasa de 1 entre 1 millón, o mejor, necesitas 3 millones de muestras, todas sin fallos. La mala noticia es que, si quieres demostrar que no hay ningún defecto, necesitarías 3 veces el infinito. Simplemente no es posible.
Phil Zarrow: Buena suerte con eso. ¿Dónde podríamos encontrar esa noticia?
Dr. Ronald C. Lasky: Esta es una de mis entradas de blog más recientes y se puede consultar en indiumstg.wpenginepowered.com/blog. Para aquellos a los que les gusten un poco las matemáticas, allí también se incluye la derivación que utilizó Patty para llegar a la solución.
Phil Zarrow: Dr. Lasky, gracias.
Dr. Ronald C. Lasky: Gracias.

Palabras clave: indio, Indium Corporation, Dr. Ron Lasky, [email protected], Phil Zarrow, [email protected], índices de defectos, fiabilidad, plan de muestreo