Brook Sandy-Smith, ingénieur du support technique pour les matériaux d'assemblage de circuits imprimés, présidera un panel sur les défauts induits par la déformation et les limites de déformation des composants au SMTAI 2017 le mercredi 20 septembre dans le Show Floor Theater. Le panel sera coprésidé par Eric Moen d'Akrometrix, et comprendra Alex Chan, Nokia ; Martin Anselm, RIT ; Raiyo Aspandiar, Intel ; Dale Lee, Plexus ; et Neil Hubble, Akrometrix.
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