Les gens,
Cp et Cpk supposent des limites de spécification symétriques par rapport à la cible. Cependant, il arrive que les limites de spécification ne soient pas symétriques. Par exemple, la norme IPC 610 suggère que pour l'efficacité de transfert (TE) de l'impression au pochoir, la limite supérieure de spécification (LSS) doit être de 180 % et la limite inférieure de spécification (LIS) de 60 %, avec un objectif de 100 %. Ces spécifications sont un peu différentes de la limite supérieure de 150 % et de la limite inférieure de 50 % utilisées par le passé. Mon bon ami Daryl Santos a abordé ce sujet lors de la récente conférence SMTA PanPac 2024 dans son article intitulé " An Improved Automated SPI Data Analysis Report Generator for Printed Circuit Board Assembly" (Générateur de rapport d'analyse de données SPI automatisé amélioré pour l'assemblage de circuits imprimés).
Supposons, par exemple, que nous disposions des données TE présentées dans la figure 1.
Figure 1. Données sur l'efficacité du transfert de l'impression au pochoir
Il est clair que les spécifications ne sont pas centrées sur l'objectif de 100 %. Dans des cas comme celui-ci, Daryl a souligné que nous ne devrions pas utiliser Cp et Cpk, mais Cpm et Cpkm. Ces indices sont souvent appelés indices du "processus de Taguchi" et sont illustrés et comparés à Cp et Cpk dans la figure 2.
Figure 2. Comparaison de Cp, Cpk, Cpm et Cpmk
Analysons les données de la figure 1 pour Cp, Cpk, Cpm et Cpmk. J'ai amélioré mon logiciel Excel® Cp, Cpk pour calculer ces mesures.
Les résultats sont présentés à la figure 3. Notez que Cpk et Cpmk sont assez proches, à 0,8344 et 0,8555. Cependant, le niveau des défauts (lectures au-delà des limites des spécifications) est étonnamment différent. Dans les calculs Cpm, le taux de défauts n'est que de 0,5258 dpm (défauts par million), alors que pour les calculs Cp, le taux est plus de 10 000 fois supérieur, à 6151,3 dpm. Cette différence stupéfiante est due au fait que la LSS pour les calculs Cpm est de 180% contre 150% pour les calculs Cp.
Figure 3. Calculs de Cp, Cpk, Cpm et Cpkm pour les données de la figure 1.
Dans les calculs Cp et Cpk, le sigma du processus est trois fois le Cpk. Cette relation a peu de sens dans les calculs Cpm. Dans la figure 3, nous obtenons une estimation d'un sigma de processus équivalent de 5,18 (voir en bas à droite de la figure 3) en utilisant le taux de défaut projeté.
Étant donné que la norme IPC 610 recommande un TE USL de 180 %, un LSL de 60 % et un objectif de 100 %, je m'attends à ce que Cpm et Cpmk deviennent des termes courants dans le domaine de l'assemblage électronique.
Santé,
Dr. Ron
