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燒機簡介

Indium Corporation 提供熱介面以協助 IC(積體電路)的燒機過程。這個過程是一種加速壓力測試,用來剔除不良元件。請閱讀這篇文章,了解 IC 加速壓力測試 (burn-in) 的必要性。如圖所示,在使用的第一年,元件的嬰兒死亡率很高,加速循環是用來剔除不良 IC,以免它們污染了一批原本正常的 IC。

加速循環包括增加電壓和溫度。升高的溫度是透過 IC 頂部的加熱元件來施加的,而該加熱元件使用熱介面材料來均勻且有效率地將熱傳導至 IC 內。熱介面需要具有低電阻、高熱導率,以及足夠的順應性,以彌補晶片頂部與燒入加熱器底部之間(不太完美)的間隙。

此應用的首選熱介面是铟,我們可以幫助您找出最適合您燒錄應用的铟基熱介面。