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Burn-in and Test Strategies Workshop a Success for Indium Corporation

您是否有正确的信息?是否有正确的观众?是否有正确的人来参观您的展位?

今年是我们第二次参加在亚利桑那州钱德勒市举办的 BiTS(预烧和测试策略)展会,从我们参展的反响来看,我们显然为正确的观众传达了正确的信息,而且我们的展台引起了很多人的兴趣。

今年,我们除了在博览会上设立展台外,还支持了其中一个教程和一篇技术论文(均由 DS&A 的 Dave Saums 撰写)。

我们的主要重点是金属 TIM,包括在半导体预烧过程中使用的Heat-Spring®材料。

戴夫-索姆斯(Dave Saums)在东海岸遭遇北风袭击的情况下仍能及时赶到会场。他的题为 "半导体测试和预烧应用中的热界面材料测试与选择 "的教程广受欢迎,并就金属热界面材料进行了大量精彩的讨论。内容包括我们与 Berliner Nanotest und Design 公司一起对热弹簧和其他热界面材料进行的一些插入测试。

尽管题为 "用于半导体测试和预烧应用的金属 TIM 的机械插入和热性能测试评估 "的技术报告标题稍长,但它更具体地侧重于插入测试的结果。

用于预烧和测试的 BiTS 热界面,由 Indium 演示 戴夫-索姆斯生物技术教程问答 罗恩-胡纳迪基调介绍 BiTS