私は何度も金属間の電解腐食の可能性を計算するよう依頼されたことがある。ほとんどの場合、このような相談を受けると、その懸念は、塩溶液のような腐食性の環境下で接合金属が組み合わされる用途に起因する。
一般的な化学ハンドブックでガルバニック系列の 2つの金属間のアノード電位差を調べ、その値が0.15V（塩水として推奨される最大値）未満であれば、ガルバニック腐食の心配はない。倉庫での保管や温度・湿度管理されていない環境など、通常の環境では、アノード指数に0.25V以上の差があってはならない。温度や湿度が管理された環境では、0.50Vの許容範囲である。
しかし、結合金属が元素金属ではなく合金である場合、この値を計算するのははるかに難しくなる。
例えば、80Au20Snと純Auめっきのアノード電位差が0.15V未満であることを証明するために、アノード電位差を簡単に供給することはできない。純金属のデータは容易に入手できますが、個々のはんだ合金の電位は実験的に決定しなければなりません。なぜなら、電位は線形ではなく、純金属に第二の金属を加え始めると、電圧変化の速度は合金によって異なるからです。
腐食が発生した場合、常に蓋に発生し、多孔質の金によって下層のニッケルが腐食されました。Au/SnとAuの界面領域で腐食が発生した例はありませんでした。
