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跳转到 JMP- 方差分析

我最近的博客主题都与 波峰焊机元器件,但 统计学也是 我感兴趣的领域。你是否曾需要比较两组或多组数据,以判断它们之间是否无关联,或者是否具有统计学意义?最近,我通过比较两台不同的表面贴装技术 组装机的变量,亲自解决了这个问题。

这是我自大学修完这门课以来第一次用到统计学,因此不得不重新温习一些知识。在分析开始时,我并不清楚具体需要进行哪种检验。需要说明的是,这些机器测量的是完全相同的变量,唯一的区别在于机器本身。我想弄清楚哪台机器更准确。或者更确切地说,是这两组结果之间是否存在统计学上的显著差异。 让我们先从“统计学上显著”的定义说起。根据 谷歌的解释,“统计学上显著”的定义是:“结果或关系由单纯随机性以外的因素所导致的概率。传统上,统计假设检验被用于确定一个结果是否具有统计学上的显著性。”

经过一番研究,我发现可以使用t检验或方差分析(ANOVA)检验。t检验使用单一变量来研究两组之间的差异,而自变量必须只有两组。方差分析测试两组或更多组数据之间差异的显著性。自变量必须有两个或更多类别。方差分析只能确定组与组之间存在差异,但不能说明哪组不同。奇怪的是,如果对两个自变量进行方差分析,得出的结果与使用t检验得出的结果是一样的。下面是我的数据快照:

根据自变量(IV)绘制的因变量(DV)散点图,其中A组和B组呈现密集的垂直点柱,并有一条水平线。

使用 JMP 软件并启用“均值/方差分析/合并 t 检验”后,我的数据现在如下所示:

统计软件输出结果,显示了因变量(DV)与自变量(IV)之间的一元方差分析,附有散点图和拟合结果。

根据 JMP 支持页面、 "概率 > F 值衡量的是,在除截距外所有参数都为零的情况下,获得与观测值一样大的 F 比值的概率。概率 > F 值越小,表明观察到的 F 比值越小。这样的值被认为是模型中至少存在一个显著效应的证据"。这个数据符合描述,因此我使用了辅助检验,即 Tukey-Kramer 检验来验证我的结果。选择该测试后,数据图像会略微变为这样:

一张单因素方差分析图表,比较了独立变量A组和B组中的因变量,图中显示了垂直散点和均值。

当我第一次使用这个测试时,我并不完全明白这些圆圈代表什么。以下是我找到的最全面的图表。

三幅图中显示了两个相交的圆,圆之间以不同角度的虚线相连,并标有“not”字样。

由于圆圈完全没有重叠,因此结果大相径庭。

当您选择 Tukey-Kramer 分析时,还会弹出一个最小显著性差异或 LSD 阈值矩阵。显示如下:

显示Abs(Dif)-HSD值的LSD阈值矩阵表,右侧带有铟泰公司 的标志。

阅读矩阵的方法是,当您比较 A 和 B 时,有一个正数表示这对平均数有显著差异。

我将不时穿插一些与我常规的 fluxers、 预热器等常规内容,分享我在[email protected]实验室进行的其他主题或实验。如有任何疑问、顾虑或想交流有趣的话题,欢迎随时与我等常规内容,转而探讨我在铟泰公司 进行的其他主题或实验。如有任何疑问、顾虑或有趣的小知识,欢迎随时联系我。(我超爱有趣的小知识!!!)我始终乐于接受新的想法和概念。