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金属TIMs 101:第2章

乡亲们

不久前,我与乔恩·梅杰(Jon Major) 共同发布了《 金属TIMs 入门指南:第一章 》 。现在,第二章即将登场!

罗恩博士乔恩,什么是 TIM1.5?

Jon:TIM1.5通常指裸露的芯片 (即未安装顶盖的芯片 )与散热器或冷板之间的接口。与TIM1不同,这里没有散热片,因此芯片 直接与散热解决方案接触。 参见图1。我们将TIM1.5称为系统级导热材料,因为CPU/GPU/ASIC已焊接在PCB 上,因此导热材料是在系统组装过程中(有时称为FATP(最终组装、测试和封装))涂覆的。大多数TIM1.5封装被视为无盖BGA式封装。在许多产品中,TIM2也属于系统级导热材料。

比较封装级与系统级热界面材料放置情况的示意图。

图1. TIM1、TIM2和TIM1.5的应用

罗恩博士何时使用 TIM1.5?

Jon:热堆叠中的每个界面都会增加降低热阻 。理论上,通过在设计中省去顶盖,芯片 与散热解决方案之间的总降低热阻 会减少。然而,TIM1.5应用 中使用的导热界面材料对整个热堆叠的性能起着非常重要的作用。 通常,用于高性能计算(HPC)应用 的封装(如 GPU、CPU 或某些 ASIC)在设计时会省去顶盖,以最大限度地减少降低热阻 ,因此需要使用 TIM1.5 材料。图 2 展示了一层覆盖四个集成电路 (IC) 芯片的 TIM1.5,该层已准备好用于连接散热器

方形金属盖,带有四个网格图案的区域,安装在深绿色的电路板 上。

图2. 一个TIM1.5,覆盖着四个芯片 集成电路,正等待散热器的应用 。

罗恩博士TIM1.5 有哪些挑战?

Jon:热界面材料 (TIM)的 主要作用是 填充高温表面(如半导体芯片 )与低温表面(如散热器 )之间的空气间隙。尽管与聚合物基TIM相比,金属基TIM的体积热导率 非常高,但热导率 并非选择TIM的唯一标准;TIM与集成电路(IC)及散热器之间的界面电阻同样重要。 因此,对于金属TIMs ,采用热界面电阻较低的金属溶液至关重要。此外,必须认识到,适用于某种封装形式的TIM未必适用于其他封装形式。了解TIM在系统组装过程中的具体应用方式也至关重要。 我们看到可压缩 金属TIMs 、焊接型TIM,以及液态金属 等TIM被应用于TIM1.5应用 中。我们在TIM1.5应用 中协助客户解决的挑战,主要集中在降低热阻 、表面润湿 、表面平整度 、表面粗糙度、夹紧力、回流温度(若采用焊接)、表面金属化、气孔检测方法、长期性能可靠性 ,以及工艺实施与优化等方面。 部分客户倾向于将焊料热界面材料(TIM)用于TIM1.5,另一些客户则偏好可压缩 热界面材料,还有许多客户因其薄的焊接层厚度(BLT) (BLT)、出色的润湿 以及低界面电阻而对液态金属 热界面材料感兴趣。

罗恩博士:请向我们介绍一下TIM1.5中使用的可压缩 (金属TIMs )。

乔恩: 几十年来,扁平 金属箔一直被用作可压缩 热界面材料(TIM)。通常,这些是铟金属或铜垫片,主要应用于电信、军事或射频等领域。 2008年,铟泰公司 *专利产品 推出了一种名为“Heat-Spring®”的图案化金属箔,如今该产品系列已涵盖多种合金和图案类型,旨在满足各类高性能应用 的需求,包括TIM1.5、TIM2、老化测试、大面积底板至冷板,适用于高功率应用 器件(如IGBT(绝缘栅双极晶体管)和SiC封装),以及浸没冷却应用 。 这种带图案的金属有助于消除热界面材料(TIM)与散热器之间以及TIM与集成电路(IC)之间的气隙,从而提高热界面导热性。良好的热界面导热性是可压缩 金属热界面材料的关键性能指标。

Heat-Spring®是一种软金属形状记忆合金热界面材料(合金 ,简称SMA-TIM)。作为一种无需回流焊接的可压缩 热界面材料,它经过预成型处理,因此非常易于涂敷。与平坦的金属箔相比,它能更好地适应芯片 和散热器表面的形状。压力集中在预成型图案中的小接触区域,从而引起塑性变形并改善接触,随着时间的推移减少降低热阻 。 当被夹在两个表面之间时,即使这些表面存在翘曲、粗糙或非共面的情况,Heat-Spring®也能提供超低的降低热阻 。作为TIM1.5使用时,Heat-Spring®提供了一种基于金属的TIM解决方案,无需复杂且昂贵的系统级回流工艺。

我们最近开发了一种名为“HSx”的创新型新模具,该模具采用了一种新的制造工艺,可提高对弯曲或翘曲较严重(翘曲量>150 μm)模具的顺应性,与我们当前的模具(HSD和HSHP(高轮廓))相比,在更低的压力(30 psi)下也能提供超低的降低热阻 。参见图3。

三幅堆叠的散热片设计示意图,分别标注为 HSD、HSHP 和新 HS 设计(HSx)。

图 3.不同的Heat-Spring®模式。

Heat-Spring®的柔韧性会随着时间的推移而提高,热循环 ,这一过程被称为“老化”。HSx 的老化周期特别短,且性能会随着热循环 而提升。参见图 4。

这张小截图展示了一幅 LabVIEW 风格的温度随时间变化曲线图,其中包含一个红色填充区域。

图4. HSx的电源循环测试,0-600瓦特,共35,000个循环。如图所示,Tj随时间推移逐渐降低,并最终趋于稳定。

鉴于基板与硅芯片之间存在热膨胀系数(CTE)不适配 ,客户仍将翘曲视为一项重大挑战。因此,我们在设计新工艺时特别考虑了翘曲问题。由于无需进行背面金属化处理,HSx是应用 中理想的TIM1.5解决方案,前提是该工艺可提供至少30 psi的夹紧力。

罗恩博士:为什么 不使用导热硅脂 呢?它似乎能很好地处理翘曲问题,而且已经存在很久了。

乔恩:对于 某些应用 应用,导热硅脂 是一种非常理想的可接受 导热材料(TIM),前提是功耗较低。对于此类低功耗密度 应用 应用,润滑脂通常表现良好,但始终存在“泵出”的风险——当热循环 和热膨胀系数(CTE)不匹配时,会导致导热硅脂 被从 TIM 界面中“泵出”,这往往会引发热失效。然而,固态金属TIMs 则不会出现这种“泵出”失效模式,非常适合高功耗密度 元器件 应用。

罗恩博士:从图5可以看出,铜的体积降低热阻 较低。为什么不使用铜呢?

一条线图,比较了BLT(降低热阻 )与导热硅脂 、LMA、Pb的键线厚度。

图5. 代表性材料的降低热阻 与焊接层厚度(BLT) (BLT)的对比

乔恩:尽管 铜的体热导率热导率 高达近400 W/mK,但其硬度过高且缺乏柔韧性,无法作为热界面材料(TIM)直接连接到芯片 上。若要施加足够的压力使铜发生塑性变形以填充气隙,势必会压碎芯片 ,因此这种做法不可行。图6展示了铜基TIM面临的挑战。请注意,与铟相比,铜在不同压力下仍存在较大的气隙降低热阻 。 图5还显示了导热硅脂 的降低热阻 值非常高。

Pb、Al、Cu、In-Ag材料中带隙降低热阻 与载荷(psi)关系的折线图。

图 6.代表性金属的热间隙电阻与压力的函数关系。

罗恩博士:Heat-Spring® 在浸入式冷却中是如何工作的?

乔恩:Heat-Spring®是一种在直接芯片散热(DTC)和浸没式冷却应用 中均经过验证的热界面材料(TIM)。在浸没式冷却系统中,Heat-Spring®作为热界面材料的使用相当普遍。与导热膏或常见的聚合物相变材料(PCM)不同,Heat-Spring®既不会溶解也不会污染标准的有机或氟化介电浸没液。 无论是作为TIM2还是TIM1.5,其安装都非常简便——只需放置Heat-Spring®,然后将散热器或冷板夹紧到组件上即可。我们还开发了应用Heat-Spring®的新颖方法,可进一步降低接触电阻。我们期待在不久的将来向业界介绍这些新方法。

罗恩博士 热弹簧可以回收利用吗?

乔恩:是的!铟基热弹簧® 是 100% 可回收的,对可持续发展计划大有裨益。我们不会将材料送往垃圾填埋场,而是回购用过的铟和许多其他金属,这些材料可以再次使用。

罗恩博士:乔恩 ,谢谢。让我们在不久的将来讨论一些应对热管理 挑战的其他TIM解决方案。

乔恩:当然!