朋友們
在上一篇文章中，我們討論了減緩錫鬚 (TW) 的技術。為了協助決定您的錫鬚減緩策略，請考慮使用失效模式與影響分析 (FMEA)(FMEA).FMEA 的核心指標是風險優先順序數 (RPN)。對於錫鬚而言，RPN 等於下列各項的乘積：(1) 錫鬚出現的機率 (P)；(2) 錫鬚出現時的嚴重性 (S)；以及 (3) 檢測錫鬚的難度 (D)。以等式形式表示：
RPN = P*S*D
作為第一個例子，請考慮消費性產品，例如使用壽命為 5 年的行動電話。檢測 (D) 是個問題，因為後來形成的錫鬚在製造過程中無法檢測出來；因此，我們必須將 D 評為 10。因此，RPN 為：2*3*10 = 60，不算太高。因此，在 P 和 S 值相對較低的情況下，任何消費性產品的錫鬚減緩策略都有可能取得成功。應該指出的是，確定 RPN 數字幾乎肯定需要輔助數據、集思廣益會和整個產品團隊的認同。該團隊還必須確定任何適當的緩解策略，例如避免在元件引線上使用亮錫塗層，或許在銅和錫之間使用閃鎳（圖 1）。
圖 1.在關鍵任務產品中，可能需要塗層。如上圖所示，TW 幾乎不可能穿透兩層塗層。
現在考慮一個關鍵任務產品，例如某些類型的軍事設備。如果我們假設電子產品的使用壽命為 40 年，且故障可能會造成身體傷害或死亡，我們很可能會達成 RPN = 10*10*10 =1000 的共識，也就是可能的最高 RPN。在這種情況下，就需要使用特殊的策略來處理錫須風險。這些策略在我於SMTA Pan Pacific 2019.
乾杯
羅恩博士
