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饥饿空洞:当(糊状物)过少时,反而会导致(空洞率)过高

当我第一次接触QFN 空洞率 时,这个问题看起来很简单:助焊剂的脱气会形成困气泡,从而导致可靠性 问题。但此后,我通过铟泰公司上的众多精彩资源,对空洞率 有了更深入的了解。当我们深入探讨气孔的类型及其形成机制时,材料与工艺变量之间更复杂的相互作用便逐渐显现出来。

克里斯·纳什(Chris Nash)博文中 提到的“石川图”是诊断空洞率 根本原因的绝佳工具,但我们也可以从相关空洞的大小、形状和位置中获得许多有用的信息。

由脱气产生的典型气孔(也称为工艺气孔)通常出现在焊点的主体部分,外观呈大型气泡状。这就是我们上面提到的气孔。它们的形成是因为脱气过程中助焊剂中的挥发分被困住。通常可以通过调整回流曲线 来减少此类气孔。

焊盘处的空洞通常与润湿 有关,这意味着可焊性 存在问题。仅调整回流曲线 可能不足以解决此问题。焊盘处的空洞通常是由缺锡 引起的,或者是因为焊料体积不足。焊料不足往往是由于钢网 厚度减薄所致。为什么?简而言之,是因为焊料体积不足,无法完全润湿焊盘。

更厚的钢网 应能减少空洞率 。除了焊料体积增加外,当某个元器件的间距较高时(由于焊膏沉积层较厚,而这又源于更厚的钢网 ),助焊剂中的挥发性物质会有更多空间释放气体,从而摆脱元器件底部的封闭环境。

这些因素都很重要,因为饥饿空洞会造成严重后果,包括: 1:

  • 焊点不牢固焊点强度
  • 打开焊点
  • 间歇性短路
  • 通过 的初始产量降低
  • 加强检查
  • 增加返修
  • 现场故障
  • 损害公司的品牌和形象
  • 销售额和利润减少

有许多因素有助于降低空洞率 。一个简单的解决方案是使用Indium 8.9HF焊膏。此外,还应关注回流曲线。Indium 8.9HF通过采用高峰值温度曲线来显著提升润湿性。 在解决了上述前两个变量后,减少空洞率 的下一步是使用尺寸合适的钢网 。一旦焊膏、回流曲线 以及钢网 的尺寸设置正确,焊盘上可能积聚助焊剂残留物的裸露区域将被最小化,熔融焊料的表面张力也会降低,从而使挥发性物质更容易逸出——进而减少空洞率 。

如需了解更多信息,或探讨如何调整变量以降低空洞率 ,请联系我们的技术服务团队,或通过[email protected]与我联系。