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腐蝕——第 3 部分:成因與預防

腐蝕是由兩種不同金屬之間的電化學反應所引起,其中一種擔任陽極,另一種則擔任陰極。鹵化物離子(例如氟離子、溴離子和氯離子)通常是導致電解質遷移的元兇。雖然這些離子常見於助焊劑中,但我驚訝地發現,它們也應用於蝕刻、電鍍、鋸切及封裝等製程中。 當用於助焊劑時,其化學配方設計旨在將鹵化物封存以避免造成危害,或是便於清潔以確保能徹底清除(例如水溶性助焊劑)。對於間距較小的倒裝晶片而言,水溶性助焊劑的可清潔性在配方設計過程中至關重要。

希望尚未完全破滅,您仍可透過適當使用免清洗助焊劑,或採用水溶性助焊劑並驗證水洗製程,來確保高可靠性。對於間距較小(50 至 100 微米)的大型晶片,需配備精密的水射流裝置,以協助水流滲透至晶片與基板介面中心。