跳至内容

表面贴装技术 电子组装中QFN 和空洞率 的工艺考量(1/3)

菲尔·扎罗:这是 三集系列的第一集。本视频适合所有对“Avoid the Void™”中实验设计方面感兴趣的人士。
布鲁克,关于“避免真空™”的讨论已经很多了,那关于实验设计该如何安排呢?例如,有哪些潜在的变量?
BrookSandy-Smith:我会将潜在变量分为三大类:材料变量、工艺变量以及设计变量。就材料变量而言,包括助熔剂类型、所选的合金 以及粉末粒径等,此外,金属含量 也会产生影响。 至于工艺变量,包括打印参数、元器件的布局方式以及回流曲线 。设计参数通常更为固定,虽然不太可能进行更改,但其中包括焊盘设计、是否采用过孔及其处理方式、电路板表面处理,以及钢网 的设计和厚度等。
菲尔·扎罗:没错 。实际上,在进行评估时,你如何将其限制在,比如,两个变量上?
BrookSandy-Smith:嗯,以材料为例,因为我们是一家焊膏公司,所以我们一直在测试各种不同的材料和焊膏。 我们会尝试将一种助焊剂与多种不同的合金搭配使用,以观察合金 的作用;或者在测试粉末粒径时,我们会使用不同类型的粉末,同时调整金属含量以保持相同的流变学特性属性 。又或者,保持合金 不变,但搭配多种不同的助焊剂。 组合方式多种多样。在测试工艺变量时,您可以选择一到三种基准材料,然后调整工艺变量,观察其对整体结果空洞率 的影响。我们还使用市售的测试基板,因此始终保持基板一致,表面处理始终采用OSP 工艺,且始终使用相同类型的元器件,以便能够回溯并对比以往研究与当前研究的结果。
菲尔·扎罗:布鲁克 ,你在这一领域做了大量深入的研究。关于这个主题,我们可以在哪里找到更多相关信息、论文和视频呢?
BrookSandy-Smith:您可以通过indiumstg.wpenginepowered.com联系我们,或者直接通过[email protected] 联系我。
菲尔·扎罗:太好了。布鲁克,非常感谢你。

节省保存